- 渋皮のむけるクリ「ぽろたん」出現の謎を解明 -

果樹研究所は、ニホングリ品種「ぽろたん」の特徴である渋皮のむけやすさの原因となる遺伝子を明らかにし、渋皮のむけやすさは、ニホングリ在来品種の持つ遺伝子に由来することを解明した。この結果を利用し、育種に利用可能な、渋皮のむけやすさを判別できるＤＮＡマーカーを開発した。このマーカーは、「ぽろたん」と同様に、良食味でむけやすい品種の育成に利用できる。

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