北海道大学大学院農学研究院と農研機構北海道農業研究センターは、遺伝子やそれ以外の反復配列を含む遺伝情報の総体（ゲノム）の発現の変動を利用して、イネが低温をどの程度ストレスと感じているのかを指標化することに成功した。

イネは、花粉の発育過程で低温に遭遇すると冷害を起こす。花粉の発育過程にあるイネに低温処理し、ゲノム全体の発現を無処理の個体と比較した結果、低温に強い品種では通常の温度で栽培した時とほとんど変化がないのに対して、低温に弱い品種は発現の変化が大きいことがわかった。この傾向は、遺伝子以外の反復配列の発現でより高い相関があり、ストレスに対する指標として新しい基準を提示した。

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